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孤独症谱系障碍儿童面部识别的事件相关电位研究
Authors Deng JR, Tong M, Zhang XT, Lin ZP, Wang Z, Long J, Chen ZM
Received 15 January 2025
Accepted for publication 29 March 2025
Published 15 April 2025 Volume 2025:21 Pages 903—916
DOI https://doi.org/10.2147/NDT.S517704
Checked for plagiarism Yes
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Editor who approved publication: Dr Roger Pinder
背景:面部识别在个体发育过程中是非常首要和重要的,N170等基于面部识别的事件相关电位被认为是孤独症谱系障碍(ASD)最潜在的客观标记,是当前研究的热点和难点。我们将探讨ASD儿童和同龄典型发育群体面部识别的电生理基础。鉴于面部识别与ASD核心症状——社交障碍之间的联系,研究P1和N170与ASD社交障碍严重程度的相关性也很有必要。
方法:在这项研究中,ASD和年龄匹配的典型发育儿童被要求观看人脸、物体和蝴蝶的图片,我们记录了相关脑电数据。ASD被试的父母或照顾者被要求填写文兰适应行为量表。最终,13例ASD儿童(6.60±2.12岁)和10例典型发育儿童(6.65±1.64岁)参加了实验。
结果:相较于典型发育儿童,ASD儿童展现了延迟的P1和N170潜伏期,并且人脸相较于物体诱发出更大的N170振幅。使用年龄为协变量,结果基本保持不变,同时我们发现年龄显著影响P1和N170潜伏期。至于事件相关电位和社交障碍的严重程度关系探究,我们发现了P1及N170潜伏期和社交障碍严重程度存在一些显著相关,越快的潜伏期意味着更好的社会功能。
结论:该结果不仅提示了ASD和典型发育群体面部识别的电生理基础,而且暗示P1和N170有潜力协助ASD的诊断和评估。此外,结果表明在P1和N170潜伏期的分析中应该考虑年龄影响。由于被试数量有限,未来需要进行多中心、大样本的研究。
关键词:孤独症谱系障碍;N170;P1;脑电图;年龄;社会功能。